PH20五轴触发式系统 利用五轴触发式测量优化您的坐标测量机性能。 移动测座，性能更佳 PH20五轴运动 传统的触发式测量方法依赖于通过加快坐标测量机的三轴运动速度来提高测量速度，PH20与之不同，它采用为REVO系统（曾获得多项殊荣）开发的测座运动技术，可尽可能降低坐标测量机在较高测量速度下的动态误差。 PH20独特的"测座碰触"功能可以仅通过移动测座，而不是坐标测量机结构，来采集测量点。这样不仅加快了采点速度，而且提高了精度和重复性。 此外，五轴联动可省去测座旋转定位时间。综合上述因素，通过***提高速度，这款新系统的测量效率通常比传统系统提高两倍。 在任意角度均可轻松测触特征 PH20 - 5-axis movement 标定速度更快 PH20轴范围 为PH20开发的独特的"推论标定"技术通过一次操作即可确定测座方向和测头位置，从而实现以任意测座角度完成后续测量。在使用其他模块之前，只需简单地在标准球上测量几个点即可。（如果需要提高测量精度，则可沿着待测特征的方向单独标定测尖）。 由于需要定期重复进行标定，以符合质量***程序或修正测头碰撞问题，因此日积月累可以节省大量时间。 集成行业标准TP20测头 TCR20和TP20模块 PH20测座的用户可以直接配用一系列成熟的TP20测头模块，提供各种测力、方向感应选项和加长杆，可满足各种应用需求。磁吸模块可提供碰撞保护，并且可以利用TCR20交换架实现自动交换。英国Renishaw雷尼绍AGILITY?系列五轴坐标测量机英国Renishaw雷尼绍五轴测量系统测量叶片复杂曲面零件三维精密测量设备高精度非接触式非球面测量机

AGILITY?五轴坐标测量机 雷尼绍UCCserver软件应用程序英国Renishaw雷尼绍AGILITY?系列五轴坐标测量机（基于I++ DME命令协议）为REVO-2控制器提供接口 可拆卸的测头系统配用低成本交换架，提高了系统灵活性 REVO-2 REVO多类型传感器系统 RSP2 RSP2 RSP2是一种专门用于REVO系统的精巧型端部感应测头，能够进行2D扫描测量 (x, y) 和3D触发式测量。 RSP3 navigation image RSP3 RSP3系列是RSP2测头的补充，为REVO系统提供3D扫描 (x,y,z) 能力，并可配用曲柄式测针。它用于三轴扫描测量，例如以固定的REVO测座角度执行测量。 SFP2 probe SFP2 将表面粗糙度检测集成到坐标测量机的测量程序中，可以在扫描测量与表面粗糙度检测之间自动切换。 RSP3-6 navigation image RSP3-6 RSP3-6的测量能力进一步增强，可深入较大工件的深孔检测相关特征。它配备各种测针吸盘，适合需要直型和曲柄式加长杆的应用场合，可用于执行触发式测量和2D扫描测量。 RVP probe RVP REVO-2 RVP测头将非接触式检测功能添加至REVO系统现有的触发式、高速接触式扫描测量和表面粗糙度检测功能中，可对不适合接触式测量的工件和特征进行全面检测。 RFP1 Fringe probe for REVO-2 RFP1 RFP1测头将非接触式结构光检测功能添加到REVO多类型传感器系统中。RFP1可快速采集高密度数据，是检测自由曲面和复杂几何形状的理想选择。 RUP1 RUP1 RUP1超声波测头具有工件厚度单边测量能力，能够测量传统接触式系统无法接近的特征。 控制器系统 雷尼绍的UCC S5坐标测量机控制器融入了五轴测量技术，它构成五轴测量系统的基础，即三个机器轴加上测座的两个回转轴。UCC S5采用的技术可提供独特的运动指令，具有同步运动和五轴测量能力。 为实现高速扫描测量，五轴测量系统必须具有完全集成的控制环。这可以通过雷尼绍的UCC S5和SPA3系统来实现。 详细了解控制器系统。 REVO系统交换架 REVO-2 交换架 REVO系统交换架用于在坐标测量机上实现测头与测针吸盘自动交换。该系统的主要作用是使用和存放长测针和多星形测针组件，从而提高测量灵活性。 为提高测量性能，可使用REVO交换架库位（RCP TC-2、RCP TC-3和RCP2）和自动交换架 (FCR25) 来自动交换REVO测头与测针吸盘。这些库位安装在模块化交换架系统 (MRS2) 上。英国Renishaw雷尼绍五轴测量系统测量叶片复杂曲面零件三维精密测量设备高精度非接触式非球面测量机

五轴技术利用五轴触发式测量优化您的坐标测量机性能。 移动测座，性能更佳 PH20五轴运动 传统的触发式测量方法依赖于通过加快坐标测量机的三轴运动速度来提高测量速度，PH20与之不同，它采用为REVO系统（曾获得多项殊荣）开发的测座运动技术，可尽可能降低坐标测量机在较高测量速度下的动态误差。 PH20独特的"测座碰触"功能可以仅通过移动测座，而不是坐标测量机结构，来采集测量点。这样不仅加快了采点速度，而且提高了精度和重复性。 此外，五轴联动可省去测座旋转定位时间。综合上述因素，通过***提高速度，这款新系统的测量效率通常比传统系统提高两倍。 在任意角度均可轻松测触特征 PH20 - 5-axis movement 标定速度更快 PH20轴范围 为PH20开发的独特的"推论标定"技术通过一次操作即可确定测座方向和测头位置，从而实现以任意测座角度完成后续测量。在使用其他模块之前，只需简单地在标准球上测量几个点即可。（如果需要提高测量精度，则可沿着待测特征的方向单独标定测尖）。 由于需要定期重复进行标定，以符合质量***程序或修正测头碰撞问题，因此日积月累可以节省大量时间。英国Renishaw雷尼绍五轴测量系统测量叶片复杂曲面零件三维精密测量设备高精度非接触式非球面测量机

 REVO? — 五轴运动和无级定位多类型传感器系统