英国Renishaw雷尼绍AGILITY?系列五轴坐标测量机REVO?系统能够在同一台坐标测量机 (CMM) 上执行高性能扫描测量、非接触式测量和表面粗糙度分析。 五轴多类型传感器测量系统 REVO系统采用同步运动和五轴测量技术，***降低了坐标测量机在超高测量速度下的动态误差。 这是通过在坐标测量机做慢速线性运动的同时，由REVO-2测座完成要求的快速运动来实现的。采用灵活的端部感应技术进一步增强了系统的精度和性能。可拆卸的测头系统配用低成本交换架，提高了系统灵活性。 速度、精度、灵活性 REVO速度 + 精度 REVO五轴测量系统可安装在新坐标测量机上，也可作为获得认证的升级选件安装在现有坐标测量机上，其优点包括： 表面粗糙度检测和尺寸测量。 节省15%至50%的检测循环时间。 大幅提高效率，降低资金投入。 全套REVO五轴测量解决方案 测量速度快 测量速度高达500 mm/秒，从而提高工件测量效率 数据采集速度高达每秒4,000个点 通过无级定位和五轴运动，英国雷尼绍REVO五轴测量系统高精度非接触式非球面/自由曲面3D形貌测量仪全自动超声波三坐标测量机

四十多年来，英国Renishaw雷尼绍AGILITY?系列五轴坐标测量机在工业测量领域实现了许多具有里程碑意义的创新，从***的触发式测头和机动可重复定位测座，到高重复性测针交换系统和模块化扫描系统，雷尼绍用于坐标测量机 (CMM) 的各类型传感器都成为了***。

五轴测量产品系列是我们在提升测量能力方面的创举，该系列具有非常高的测量速度和灵活性，同时避免了传统技术固有的速度和精度不可兼得的缺点。无论是REVO扫描系统还是PH20触发式测座，雷尼绍的五轴系统不仅能够提高测量效率，缩短生产辅助时间，还可以帮助制造商更全面地了解产品质量。PH20五轴触发式系统 利用五轴触发式测量优化您的坐标测量机性能。 移动测座，性能更佳 PH20五轴运动 传统的触发式测量方法依赖于通过加快坐标测量机的三轴运动速度来提高测量速度，PH20与之不同，它采用为REVO系统（曾获得多项殊荣）开发的测座运动技术，可尽可能降低坐标测量机在较高测量速度下的动态误差。 PH20独特的"测座碰触"功能可以仅通过移动测座，而不是坐标测量机结构，来采集测量点。这样不仅加快了采点速度，而且提高了精度和重复性。 此外，五轴联动可省去测座旋转定位时间。综合上述因素，通过***提高速度，这款新系统的测量效率通常比传统系统提高两倍。 在任意角度均可轻松测触特征 PH20 - 5-axis movement 标定速度更快 PH20轴范围 为PH20开发的独特的"推论标定"技术通过一次操作即可确定测座方向和测头位置，从而实现以任意测座角度完成后续测量。在使用其他模块之前，只需简单地在标准球上测量几个点即可。（如果需要提高测量精度，则可沿着待测特征的方向单独标定测尖）。 由于需要定期重复进行标定，以符合质量***程序或修正测头碰撞问题，因此日积月累可以节省大量时间。 集成行业标准TP20测头 TCR20和TP20模块 PH20测座的用户可以直接配用一系列成熟的TP20测头模块，提供各种测力、方向感应选项和加长杆，可满足各种应用需求。磁吸模块可提供碰撞保护，并且可以利用TCR20交换架实现自动交换。英国Renishaw雷尼绍AGILITY?系列五轴坐标测量机英国雷尼绍REVO五轴测量系统高精度非接触式非球面/自由曲面3D形貌测量仪全自动超声波三坐标测量机

减少在切换工件特征之间的非生产性转换时间 通过推论校验所有位置实现快速标定，从而增加测量时间 系统精度高 五轴扫描技术可减少坐标测量机的运动以及由此产生的动态误差 扫描测力极低，可降低测针磨耗 通过无级定位和五轴运动，可测量之前难以接近的特征 端部感应技术进一步增强了系统的精度和灵活性 灵活性强 从测座旋转中心轴向延长高达800 mm 具备多类型传感器测头和测针交换能力 雷尼绍UCCserver软件应用程序英国Renishaw雷尼绍AGILITY?系列五轴坐标测量机（基于I++ DME命令协议）为REVO-2控制器提供接口 可拆卸的测头系统配用低成本交换架，提高了系统灵活性 REVO-2 REVO多类型传感器系统 RSP2 RSP2 RSP2是一种专门用于REVO系统的精巧型端部感应测头，能够进行2D扫描测量 (x, y) 和3D触发式测量。 RSP3 navigation image RSP3 RSP3系列是RSP2测头的补充，为REVO系统提供3D扫描 (x,y,z) 能力，并可配用曲柄式测针。它用于三轴扫描测量，例如以固定的REVO测座角度执行测量。 SFP2 probe SFP2 将表面粗糙度检测集成到坐标测量机的测量程序中，可以在扫描测量与表面粗糙度检测之间自动切换。 RSP3-6 navigation image RSP3-6 RSP3-6的测量能力进一步增强，可深入较大工件的深孔检测相关特征。它配备各种测针吸盘，适合需要直型和曲柄式加长杆的应用场合，可用于执行触发式测量和2D扫描测量。 RVP probe RVP REVO-2 RVP测头将非接触式检测功能添加至REVO系统现有的触发式、高速接触式扫描测量和表面粗糙度检测功能中，可对不适合接触式测量的工件和特征进行全面检测。 RFP1 Fringe probe for REVO-2 RFP1 RFP1测头将非接触式结构光检测功能添加到REVO多类型传感器系统中。RFP1可快速采集高密度数据，是检测自由曲面和复杂几何形状的理想选择。